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超細產(chǎn)品膜厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:33:12 +0000

美國博曼Bowman 超細產(chǎn)品膜厚儀BA-100 Optics

主要配置：

1. Programmable XY可編程自動樣品臺，行程范圍15.3×12.7厘米；2. Poly Capillary optics with 80um FWHM (毛細管聚焦機構(gòu),焦斑80um FWHM)；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution Solid St Detector (高分辨率SSD硅漂移探測器)

深圳市奔藍科技有限公司總代理美國博曼Bowman X射線鍍層測厚儀及輔助配件！相比費希爾、牛津儀器和精工測厚儀更有卓越的表現(xiàn)！價格更實惠，軟件人性化設計，極力推薦產(chǎn)品！并供應美國CalMetrics鍍層標準片，都附有可以追溯到美國NIST認證的證書。

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

十多年來，深圳奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構(gòu)、高校、質(zhì)量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和最優(yōu)質(zhì)的服務都得到客戶最高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。

超薄鍍層測厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:31:30 +0000

美國博曼Bowman 超薄鍍層測厚儀BA-100 Optics

主要配置：

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

納米級膜厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:30:17 +0000

美國博曼Bowman 納米級膜厚儀BA-100 Optics

主要配置：

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

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強大的定性、無標樣分析功能
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靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
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常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

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半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

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毛細管聚焦膜厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:28:36 +0000

美國博曼Bowman 毛細管聚焦膜厚儀BA-100 Optics

主要配置：

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穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
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多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
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小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
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簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
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常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

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光學聚焦測厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:26:56 +0000

美國博曼Bowman 光學聚焦測厚儀BA-100 Optics

主要配置：

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Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
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簡單的設計、強大的分析能力

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成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
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常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

XRF厚度測量儀器BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:24:20 +0000

美國博曼Bowman XRF厚度測量儀器BA-100 Optics

主要配置：

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
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常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

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半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

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深圳市奔藍科技有限公司 Shenzhen BenLion Technologies Co., Ltd.

洪先生13425152378?? QQ：18587516

郵件：[email protected] 網(wǎng)站：http://m.fslx84.cn

Msn：[email protected] Skype：Shiliang.hong

第二代鍍層測厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:20:44 +0000

美國博曼Bowman 第二代鍍層測厚儀BA-100 Optics

主要配置：

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

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Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

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穩(wěn)定的X射線管

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射線出射點預置于射線管Be窗正中央
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多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

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高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ；Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

銅鎳鉻測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:10:50 +0000

美國博曼Bowman 銅鎳鉻測厚儀BA-MVP

主要配置：

1. Extended Programmable XY可編程加寬自動樣品臺，行程范圍25.4×25.4厘米；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

鎳鈀金測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:06:56 +0000

美國博曼Bowman 鎳鈀金測厚儀BA-MVE

主要配置：

1. Extended XY不可編程加寬自動樣品臺，行程范圍25.4×25.4厘米；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

鍍層測量儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 15:01:07 +0000

美國博曼Bowman 鍍層測量儀BA-MVP

主要配置：

1. Programmable XY可編程自動樣品臺，行程范圍15.3×12.7厘米；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

X-RAY測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 14:55:56 +0000

美國博曼Bowman X-RAY測厚儀MVM

主要配置：

1. Motorized? XY不可編程自動樣品臺，行程范圍15.3×12.7厘米；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

金鎳厚測量儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 14:48:34 +0000

美國博曼Bowman 金鎳厚測量儀BA-MVF

主要配置：

1. Fixed Base 固定樣品臺；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3.?Adjustable Focal可調(diào)對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

熒光測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 14:40:58 +0000

美國博曼Bowman 熒光測厚儀BA-MFF

主要配置：

1. Fixed Base 固定樣品臺；2. Multi Coll多準直器0.1，0.2，0.3mm；3. Fixed Focal預設固定焦距 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

X射線測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 14:19:52 +0000

美國博曼Bowman X射線測厚儀BA-SSF

主要配置：

1. Fixed Base 固定樣品臺；2. Single Coll單準直器0.2mm；3. Fixed Focal預設固定焦距 4. High resolution solid state Si PIN detector 高分辨率硅PIN探測器

深圳市奔藍科技有限公司總代理美國博曼Bowman X射線鍍層測厚儀及輔助配件！相比費希爾、牛津儀器和精工測厚儀更有卓越的表現(xiàn)！價格更實惠，軟件人性化設計，極力推薦產(chǎn)品！

并供應美國CalMetrics鍍層標準片，都附有可以追溯到美國NIST認證的證書。

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe ; Cr/Fe；Ni/Fe(不銹鋼)

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB ; Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

膜厚儀BA-100 Optics

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 07:46:07 +0000

Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

供應美國博曼Bowman X射線測厚儀鍍層測厚儀膜厚測量儀

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩(wěn)定的X射線管

微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
射線出射點預置于射線管Be窗正中央
長壽命的射線管燈絲
獨有的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)

顯著提高X射線信號強度
獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
小于100um直徑的測量斑點
經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB；Au/Pd/Ni/PCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

線材：Sn/Cu

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

鍍層測厚儀BA-100

洪仕良 — Mon, 20 Jul 2015 06:15:28 +0000

美國博曼Bowman X射線測厚儀鍍層測厚儀膜厚測量儀

集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！

博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。

機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。

品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100?? 博曼Bowman中國區(qū)總代理

美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到最嚴格的測試要求時也能夠?qū)崿F(xiàn)快速、方便、高效的XRF分析效果。

智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內(nèi)顯著提升您的鍍層產(chǎn)品質(zhì)量控制。

性能與可操作性的最優(yōu)化

緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規(guī)格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護

簡單的設計、強大的分析能力

快速、無損的分析
成份分析最多可達25種元素
同時可最多分析5層
基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計

直觀的用戶界面

最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
強大的報告編輯生成器

常見的鍍層應用：

汽車： Cr/Ni/Cu/ABS ；Zn/Fe

線路板：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB

引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Ni/Fe

緊固件：Zn-Fe/Fe ；Zn-Ni/Fe

切削工具：TiCN/WCo；TiAlN/WC

五金和管道固定裝置：Ni/Cu；Cr/Ni/Cu/Zn

通訊和數(shù)據(jù)儲存設備：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu

衛(wèi)浴及汽車配件：Cr/Ni/Cu/ABS(塑料)；Cr/Ni/Cu/Fe(不銹鋼)

珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等

X-RAY鍍層膜厚儀ComPact 5 PIN

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 20:56:33 +0000

德國Roentgenanalytik宏德X-RAY鍍層測厚儀ComPact 5 PIN

X-RAY鍍層膜厚儀ComPact 5 PIN：配置半導體電冷卻檢測器，XYZ全自動樣品臺，鐳射自動對焦，輕巧的設計，半開放式測試箱，可容納大件的PCB產(chǎn)品，功能強大，可配合激光自動對焦，全方位自動樣品臺等功能使用。適合中小工件及PCB等產(chǎn)品行業(yè)。

德國宏德X-射線熒光分析測厚儀Compact 5 PIN能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值.分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選?？蓽y量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。

安全性能：通過德國PTB安全驗證，符合德國最高安全法規(guī)標準。

可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

準直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm ?？蛇x四個組合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm或50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um或特別訂造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。

自動測量功能：編程測量，自定測量

修正測量功能：底材修正，已知樣品修正

綜合性能：鍍層分析? 定性分析? 定量分析? 鍍液分析

鍍層分析：可分析三層厚度,獨有的FP分析軟件,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您節(jié)省購買標準片的成本。完全超越其他品牌的FP軟件。

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液。

定性定量分析：光譜表示，光譜比較，可定性分析20多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度。

統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖，能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì)。

X-RAY鍍層膜厚儀ComPact 5

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 20:50:28 +0000

德國Roentgenanalytik宏德X-RAY鍍層測厚儀ComPact 5

X-RAY鍍層膜厚儀ComPact 5：配置正比例檢測器，XYZ全自動樣品臺，鐳射自動對焦，輕巧的設計，半開放式測試箱，可容納大件的PCB產(chǎn)品，功能強大，可配合激光自動對焦，全方位自動樣品臺等功能使用。適合中小工件及PCB等產(chǎn)品行業(yè)。

德國宏德X-射線熒光分析測厚儀Compact 5能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值.分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選?？蓽y量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。

安全性能：通過德國PTB安全驗證，符合德國最高安全法規(guī)標準。

可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

準直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm ?？蛇x四個組合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm或50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um或特別訂造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。

自動測量功能：編程測量，自定測量

修正測量功能：底材修正，已知樣品修正

綜合性能：鍍層分析? 定性分析? 定量分析? 鍍液分析

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液。

定性定量分析：光譜表示，光譜比較，可定性分析20多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度。

統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖，能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì)。

X-RAY膜厚儀ComPact eco PIN

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 20:38:49 +0000

德國宏德X-RAY鍍層測厚儀ComPact eco PIN

X-RAY膜厚儀ComPact eco PIN：相比ComPact eco,配置了分辨率更高的半導體電子冷卻檢測器。特點：小巧獨特的設計，為您盡可能節(jié)省成本，是進口熒光分析儀最實惠的產(chǎn)品，適合中小工件的測量，功能使用，準確性特高，是五金、首飾、端子等行業(yè)的首選。

德國宏德X-射線熒光分析測厚儀Compact eco PIN能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能優(yōu)越,而且價錢超值.分析鍍層厚度和元素成色同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首選。備有Compact eco , Compact 5/5PIN , Maxxi4 , MaXXi5/5PIN , MaXXi RoHS等型號選擇，可測量各類金屬層、合金層厚度，附帶功能：合金成份分析，電鍍液成份分析，中文簡體、繁體、英文操作系統(tǒng)。

安全性能：通過德國PTB安全驗證，符合德國最高安全法規(guī)標準。

可測元素范圍：鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

準直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm ?？蛇x四個組合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm或50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um或特別訂造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。

自動測量功能：編程測量，自定測量

修正測量功能：底材修正，已知樣品修正

綜合性能：鍍層分析? 定性分析? 定量分析? 鍍液分析

鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液。

定性定量分析：光譜表示，光譜比較，可定性分析20多種金屬元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。

光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度。

統(tǒng)計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖，能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì)。

X熒光鍍層測厚儀X-Strata980

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 07:37:38 +0000

X熒光鍍層測厚儀X-Strata980

X-Strata980 出色的精準性和長期穩(wěn)定性，有效改善生產(chǎn)過程和質(zhì)量控制：

英國牛津儀器生產(chǎn)的100瓦X射線管大大提高了靈敏度，實現(xiàn)快速精確的分析

高分辨半導體探測器

通過多個初級濾波器對全元素范圍實現(xiàn)最佳的分析效果

多款準直器可供選擇，檢測樣品直徑最小達150μm

牛津儀器公司獨特的低背景測量板，實現(xiàn)更低的檢出下限

應用領域及行業(yè)：

1.電子&五金電鍍行業(yè)

電子元件：

有效調(diào)整生產(chǎn)過程，從而提高生產(chǎn)力

確保元件可靠性

測量焊料合金成份和鍍層厚度

優(yōu)化質(zhì)量控制，從而確保產(chǎn)品生命周期

分析導電性鍍層金和鈀的厚度

測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍：

電鍍處理的成本最小化，產(chǎn)量最大化

快速簡單的分析

同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析

最多可分析4層（不包括基層）

鍍液成份分析

2.篩選性檢測&金屬合金行業(yè)

高可靠性鍍層

RoHS/WEEE/ELV*篩選性檢測

改善質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品符合環(huán)保要求

有害元素檢測結(jié)果可精確到ppm級

量化有害元素，如Cd, Hg, Pb等，核實產(chǎn)品是否符合環(huán)保要求

金屬成份分析和牌號鑒定

珠寶及其他合金的快速無損分析

貴金屬合金分析，黃金純度分析，材料鑒定，雜質(zhì)量化

3.新能源行業(yè)

太陽電池板和燃料電池

確保產(chǎn)品有效一致

光電池薄膜吸收層（如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析

通過鍍層厚度分析優(yōu)化導電性

X熒光鍍層膜厚儀X-Strata920

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 05:04:53 +0000

X-Strata920 X熒光鍍層膜厚儀介紹

X-Strata920膜厚儀：是牛津儀器新開發(fā)的新一代鍍層膜厚儀，是CMI900膜厚儀的升級產(chǎn)品，將逐漸取代膜厚儀CMI900，是X射線熒光(XRF)鍍層膜厚儀，無損測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，快速簡潔只需要10秒即可得出測量結(jié)果，是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的最佳檢測工具。應用行業(yè)不一樣，有著多種稱謂：金鎳膜厚儀、LED膜厚儀、金銀膜厚儀、X射線膜厚儀、X-Ray膜厚儀、臺式膜厚儀……

X-Strata920膜厚儀應用行業(yè)：

PCB、FPC、LED支架和封裝、連接器、端子、電子元件、五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院校。

X-Strata920膜厚儀工作原理：

對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

X-Strata920膜厚儀的工作特點：

1.測量時間約10秒，快速無損得出測量結(jié)果，進行非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析；

2.測量元素為鈦Ti22—鈾U92間各元素，范圍寬廣；

3.同時測量5層鍍層（含基材鍍層），15種元素共存校正；

4.測量精度高，結(jié)果精確到微英寸；

5.測量結(jié)果報告可直接打印或輸出到PDF、Excel文檔；

6.測量結(jié)果報告中可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片、各種統(tǒng)計報表；可使用系統(tǒng)預置的報告模板和客戶自定義的報告模板；

7.系統(tǒng)安全設置到最高級別，配置有X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開關、樣品室開閉門傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級密碼管理等；

8.貴金屬檢測，如Au karat評價；

9.材料和合金元素分析；

10.材料鑒別和分類檢測；

11.元素光譜定性分析

12.提供NIST認證的鍍層標準片。

韓國X射線測厚儀XRF-2000

洪仕良 — Sat, 02 Mar 2013 04:19:10 +0000

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測厚儀（經(jīng)濟型）

奔藍科技是韓國Micro Pioneer XRF-2000 X射線鍍層測厚儀中國區(qū)一級專業(yè)資深代理商，集銷售、保養(yǎng)、校正（調(diào)試）及維修等專業(yè)服務一體化；長期提供XRF-2000測厚儀原裝進口零配件（X射線光管、正比例探測器及放大器等）.

XRF-2000能提供各類金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩(wěn)定、無損的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能優(yōu)越,而且價錢超值，同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的首選。

膜厚測試符合國際標準：ASTMB568 ;?? ISO3497;? DIN50987? 。

校正標準片：符合NIST規(guī)范，附有美國國際標準之證明文件。

XRF-2000 系列分為以下三種：

1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。

2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量樣品較小，高度約30mm以下。

3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。

特色 : 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。標準配備: 溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。? 移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。? 獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標準ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告。

光學2 0X 影像放大功能，更能精確對位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。優(yōu)於美製儀器的設計與零件可靠度以及擁有價格與零件的最佳優(yōu)勢。? 儀器正常使用保固期一年，強大的專業(yè)技術支援及良好的售后服務。測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。