CMI760臺式孔銅/面銅測厚儀

供應(yīng)CMI760臺式PCB專用孔銅/面銅測厚儀

深圳市奔藍(lán)科技有限公司專業(yè)代理英國Oxford Instruments牛津儀器CMI760臺式PCB專用孔銅/面銅測厚儀及配件！集銷售、安裝、維護(hù)、維修及培訓(xùn)一體化服務(wù)！

品牌：Oxford Instruments牛津儀器 ?型號：CMI760

 

牛津儀器測厚儀器CMI 760專為滿足印刷電路板行業(yè)銅厚測量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計。

CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴展性，對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。同時CMI 760具有先進(jìn)的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。

CMI 760配置包括：

–CMI 760主機

–SRP-4探頭

–SRP-4探頭替換用探針模塊（1個）

–NIST認(rèn)證的校驗用標(biāo)準(zhǔn)片

選配配件：

–ETP探頭

–TRP探頭

–SRG軟件

SRP-4面銅探頭測試技術(shù)參數(shù)：

–銅厚測量范圍：

–化學(xué)銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)

–電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)

–線形銅可測試線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

–準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片

–精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

–分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil, 0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

ETP孔銅探頭測試技術(shù)參數(shù)：

–可測試最小孔直徑：35 mils (899 μm)

–測量厚度范圍：0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)

–電渦流原理：遵守ASTM-E376-96標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定

–準(zhǔn)確度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

–精確度：1.2 mil（30μm）時，達(dá)到1.0% （實驗室情況下）

–分辨率：0.01 mils (0.1μm)

TRP-M（微孔）探頭測試技術(shù)參數(shù)：

–最小可測試孔直徑范圍：10 – 40 mils (254 – 1016 μm)

–孔內(nèi)銅厚測試范圍：0.5-2.5mils（12.7-63.5μm）

–最大可測試板厚：175mil （4445 μm）

–最小可測試板厚：板厚的最小值必須比所對應(yīng)測試線路板的最小孔孔徑值高3mils(76.2μm)

–準(zhǔn)確度（對比金相檢測法）：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

±10%≥1mil(25 μm)

–精確度：不建議對同一孔進(jìn)行多次測試

–分辨率：0.01 mil(0.1 μm)

–顯示??????????????? 6位LCD數(shù)顯

–測量單位????????? um-mils可選

–統(tǒng)計數(shù)據(jù)????????? 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值max、最小值min

–接口??????????????? 232串口,打印并口

–電源??????????????? AC220

–儀器尺寸?????????290x270x140mm

–儀器重量?????????2.79kg

 

Oxford Instruments牛津儀器還有以下產(chǎn)品：

X-Strata920 系列臺式X熒光鍍層測厚儀

CMI511便攜式PCB孔銅測厚儀

CMI165便攜式PCB面銅測厚儀（帶溫度補償功能）

CM95M便攜式銅箔測厚儀

CMI563便攜式PCB面銅測厚儀

CMI233便攜式涂層測厚儀

CMI243便攜式金屬鍍層測厚儀

CMI250便攜式涂鍍層測厚儀

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