美國CalMetics 手持X射線鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片
手提式/手持式X-Ray(VXR)熒光測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片/薄片/校正片/校準(zhǔn)片
品牌:CalMetics
適合于座臺式,手持式X射線金屬鍍層測厚儀
手持X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片-銅上鍍鎳鍍鈀鎳鍍金(Au/Pd-Ni/Ni/Cu)規(guī)格(可提供特別訂制):
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)的建檔、校準(zhǔn)和校驗(yàn)。
現(xiàn)在市面上普通的坐臺式X射線標(biāo)準(zhǔn)片測量面積太小,用手提式X射線測厚儀不太好測量,其它的庫侖測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片由于鍍的不均勻,誤差太大。CalMetics作為美國NIST認(rèn)可的專門制作X射線鍍層標(biāo)準(zhǔn)片,其生產(chǎn)訂做的手持式X-Ray測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,其面積足夠大,厚度均勻,一直被顧客認(rèn)可。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx。(所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書,具有權(quán)威性)
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美國CalMetrics X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片 薄膜標(biāo)準(zhǔn)片 電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
膜厚標(biāo)準(zhǔn)片Au/Pd/Ni/Cu規(guī)格(可提供特別訂制):
銅上鍍鎳鍍鈀鍍金(Au/Pd/Ni/Cu):
S12517-20? Au/Pd/Ni/Cu? 2 pts
#1 Au 0.12-0.16u’’ / Pd 0.16-0.49u’’ / Ni 20-35u’’
#2 Au 0.31-0.43u’’ / Pd 0.87-1.18u’’ / Ni 80-100u’’
S12517-21? Au/Pd/Ni/Cu? 3 pts
#1 Au 0.12-0.16u’’ / Pd 0.16-0.49u’’ / Ni 20-35u’’
#2 Au 0.31-0.43u’’ / Pd 0.87-1.18u’’ / Ni 80-100u’’
#3 Au 0.87-1.08u’’ / Pd 3.9-5.9u’’ / Ni 150-200u’’
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)的建檔、校準(zhǔn)和校驗(yàn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片的特色:標(biāo)準(zhǔn)片NIST、A2LA校正認(rèn)證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx。(所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書,具有權(quán)威性)
美國CalMetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,以及對標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行重新鑒定,其所有證書都是符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會)標(biāo)準(zhǔn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。
]]>美國CalMetrics X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片 薄膜標(biāo)準(zhǔn)片 電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
膜厚標(biāo)準(zhǔn)片Cr/Ni/Cu/Fe規(guī)格(可提供特別訂制):
鐵上鍍銅鍍鎳鍍鉻(Cr/Ni/Cu/Fe):
Cr/Ni/Cu/Fe? 0.56/15.2/5.84um
Cr/Ni/Cu/Fe? 15/15/15um
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)的建檔、校準(zhǔn)和校驗(yàn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片的特色:標(biāo)準(zhǔn)片NIST、A2LA校正認(rèn)證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx。(所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書,具有權(quán)威性)
美國CalMetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,以及對標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行重新鑒定,其所有證書都是符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會)標(biāo)準(zhǔn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。
]]>美國CalMetrics X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片 膜厚標(biāo)準(zhǔn)片 薄膜標(biāo)準(zhǔn)片 電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
膜厚標(biāo)準(zhǔn)片Au/Pd-Ni/Ni/Cu規(guī)格(可提供特別訂制):
銅上鍍鎳鍍鈀鎳鍍金(Au/Pd-Ni/Ni/Cu):
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.12/1.88/2.59um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.12/0.27/2.62um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.30/0.26/2.74um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.49/0.25/2.77um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.12/1.04/2.79um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.29/1.02/2.72um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.50/1.02/2.67um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.31/1.96/2.77um
Au/Pd-Ni/Ni/Cu? 0.51/1.88/2.72um
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費(fèi)希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)的建檔、校準(zhǔn)和校驗(yàn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片的特色:標(biāo)準(zhǔn)片NIST、A2LA校正認(rèn)證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好;
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學(xué)鍍層:Ni-P/xx。(所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書,具有權(quán)威性)
美國CalMetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片,以及對標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行重新鑒定,其所有證書都是符合NIST(National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院)標(biāo)準(zhǔn)或ANSI(American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會)標(biāo)準(zhǔn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。
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