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精工X射線膜厚片F(xiàn)e/XX
日本Seiko精工X射線膜厚片F(xiàn)e/XX
日本Seiko精工X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、布魯克Burker、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）的建檔、校準(zhǔn)和校驗。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片的特色：標(biāo)準(zhǔn)片NIST、A2LA校正認(rèn)證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好;
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：
Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。（所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書，具有權(quán)威性）
日本Seiko精工公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測厚儀及膜厚標(biāo)準(zhǔn)片的企業(yè)，以及對標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National
Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI（American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會）標(biāo)準(zhǔn)。
X射線測厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片又叫膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測量分析檔案。
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