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離子污染測(cè)試儀500M LP
美國(guó)SCS 離子污染測(cè)試儀Ionograph 500M LP
大的14”×20”/ 5加侖測(cè)試腔室中可容納更長(zhǎng)的樣品。
?對(duì)大元器件的14“ x 20”測(cè)試室
?允許測(cè)試不能被其它模塊容納的特大型樣品
?設(shè)備尺寸584x686x762mm，220V 50Hz 2.5A
SCS在多種工業(yè)領(lǐng)域（包括印制電路板，生產(chǎn)和醫(yī)藥工業(yè)）為非破壞性過(guò)程控制測(cè)試提供全范圍的離子測(cè)試系統(tǒng)。SCS儀器集團(tuán)離子污染測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)設(shè)計(jì)為快速、準(zhǔn)確離子污染清潔度測(cè)試的模塊組裝系統(tǒng)。每一個(gè)模塊使用超凈酒精/水萃取介質(zhì)和專利的“動(dòng)態(tài)方式”來(lái)快速、無(wú)破壞性測(cè)試產(chǎn)品樣品。
Ionograph500M模塊由一臺(tái)個(gè)人電腦 Ionograph 500M指令模塊操縱來(lái)測(cè)定是否符合IPC-TM-650和其他工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的清潔度需要。他們可用于測(cè)量輸入電子元器件和電路板的品質(zhì)并且可以評(píng)估助焊劑污染和監(jiān)視表面清潔度。
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