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膜厚儀BA-100 Optics
Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀
供應美國博曼Bowman X射線測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚測量儀
深圳市奔藍科技有限公司總代理美國博曼Bowman X射線鍍層測厚儀及輔助配件！相比費希爾、牛津儀器和精工測厚儀更有卓越的表現！價格更實惠，軟件人性化設計，極力推薦產品！并供應美國CalMetrics鍍層標準片，都附有可以追溯到美國NIST認證的證書。
集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務！
博曼Bowman鍍層測厚儀，專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。
機器可以測量更小的面積，更多層的鍍層，更薄的鍍層厚度，測量數據非常穩(wěn)定。
品牌：博曼Bowman?? 型號：BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理
美國博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發(fā)強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
- 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小于100um的測量斑點
- 射線出射點預置于射線管Be窗正中央
- 長壽命的射線管燈絲
- 獨有的預熱和ISO溫度適應程序
多毛細管聚焦光學結構
- 顯著提高X射線信號強度
- 獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度
- 小于100um直徑的測量斑點
- 經過驗證，接近完美的測量精度
性能與可操作性的最優(yōu)化
- 緊湊式設計，改善效率和精度
- 高分辨半導體固態(tài)探測器（Si-PIN），提高穩(wěn)定性和靈敏度
- 更短的預熱時間，更長壽命的光管
- 多種規(guī)格一次濾波器和準直器
- 可變焦距適應復雜樣品的測量需求
- 模塊化設計，方便維修、維護
簡單的設計、強大的分析能力
- 快速、無損的分析
- 成份分析最多可達25種元素
- 同時可最多分析5層
- 基于基本參數法的鍍層和成份分析方法
- 僅需一根USB線與電腦連接
- 快捷的面板控制按鈕
- 占用空間小、輕量化設計
直觀的用戶界面
- 最大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
- 基于Net framework框架的Xralizer軟件
- 直觀的圖標引導用戶界面
- 強大的定性、無標樣分析功能
- 功能強大的標準片庫
- 用于快速分析的可定制快捷鍵
- 靈活的數據顯示與導出
- 強大的報告編輯生成器
常見的鍍層應用：
線路板 ：Au/ENi/CuPCB（ENIG）；Ag或Sn/CuPCB；Au/Pd/Ni/PCB
引線框架和連接器 ：Au/Pd/Ni/Cu Alloys；Au/Ni/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe
半導體行業(yè)：Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材；Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材：Sn/Cu
通訊和數據儲存設備 ：NiP/Al ；Ag/Cu；Ag/Ni/Cu
珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等
十多年來，深圳奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產品和最優(yōu)質的服務都得到客戶最高的獎勵，在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。
Tags: X射線測厚儀,膜厚儀,熒光測厚儀,薄膜測厚儀,金鎳厚測量儀,鍍層測厚儀
