當前位置: 首頁 > XRF鍍層測厚儀, 美國Bowman博曼XRF鍍層測厚儀 > 毛細管聚焦膜厚儀BA-100 Optics
毛細管聚焦膜厚儀BA-100 Optics
美國博曼Bowman 毛細管聚焦膜厚儀BA-100 Optics
主要配置:
1. Programmable XY可編程自動樣品臺,行程范圍15.3×12.7厘米;2. Poly Capillary optics with 80um FWHM (毛細管聚焦機構,焦斑80um FWHM);3.?Adjustable Focal可調對焦距離0.65~6.5厘米,雷射聚焦組件 4. High resolution Solid St Detector (高分辨率SSD硅漂移探測器)
深圳市奔藍科技有限公司總代理美國博曼Bowman X射線鍍層測厚儀及輔助配件!相比費希爾、牛津儀器和精工測厚儀更有卓越的表現(xiàn)!價格更實惠,軟件人性化設計,極力推薦產(chǎn)品!并供應美國CalMetrics鍍層標準片,都附有可以追溯到美國NIST認證的證書。
集銷售、安裝、維護、維修及培訓一體化服務!
博曼Bowman鍍層測厚儀,專業(yè)用于PCB電路板行業(yè)和高端要求的表面處理行業(yè)使用。
機器可以測量更小的面積,更多層的鍍層,更薄的鍍層厚度,測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。
品牌:博曼Bowman?? 型號:BA-100 Optics 博曼Bowman中國區(qū)總代理
美國博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用業(yè)界最先進的多孔毛細管光學聚焦裝置,有效縮小測量點斑點的同時,可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD(硅漂移探測器),有效拓展元素分析范圍,適應最嚴格的微區(qū)、超薄鍍層,以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力,Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質量管控的最佳XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
- 微聚焦50瓦Mo靶射線管(其它靶材可選); 小于100um的測量斑點
- 射線出射點預置于射線管Be窗正中央
- 長壽命的射線管燈絲
- 獨有的預熱和ISO溫度適應程序
多毛細管聚焦光學結構
- 顯著提高X射線信號強度
- 獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
- 小于100um直徑的測量斑點
- 經(jīng)過驗證,接近完美的測量精度
性能與可操作性的最優(yōu)化
- 緊湊式設計,改善效率和精度
- 高分辨半導體固態(tài)探測器(Si-PIN),提高穩(wěn)定性和靈敏度
- 更短的預熱時間,更長壽命的光管
- 多種規(guī)格一次濾波器和準直器
- 可變焦距適應復雜樣品的測量需求
- 模塊化設計,方便維修、維護
簡單的設計、強大的分析能力
- 快速、無損的分析
- 成份分析最多可達25種元素
- 同時可最多分析5層
- 基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析方法
- 僅需一根USB線與電腦連接
- 快捷的面板控制按鈕
- 占用空間小、輕量化設計
直觀的用戶界面
- 最大的分析靈活性,減少用戶出錯機會
- 基于Net framework框架的Xralizer軟件
- 直觀的圖標引導用戶界面
- 強大的定性、無標樣分析功能
- 功能強大的標準片庫
- 用于快速分析的可定制快捷鍵
- 靈活的數(shù)據(jù)顯示與導出
- 強大的報告編輯生成器
常見的鍍層應用:
線路板 :Au/ENi/CuPCB(ENIG);Ag或Sn/CuPCB ;Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架和連接器 :Au/Pd/Ni/Cu Alloys;Au/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe
半導體行業(yè):Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材;Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材:Sn/Cu
通訊和數(shù)據(jù)儲存設備 :NiP/Al ;Ag/Cu;Ag/Ni/Cu
珠寶、貴金屬 : 10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等
十多年來,深圳奔藍科技一直服務于PCB 廠商、五金電鍍、連接器、LCD、科研機構、高校、質量檢測中心、半導體、微電子、光電子、光通訊等領域。我們提供高質量的產(chǎn)品和最優(yōu)質的服務都得到客戶最高的獎勵,在未來,我們將繼續(xù)履行客戶的期望、要求和需要。
Tags: X射線測厚儀,膜厚儀,熒光測厚儀,薄膜測厚儀,金鎳厚測量儀,鍍層測厚儀